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熱膨脹系數分析儀TEA

來(lái)源: 作者: 管理員時(shí)間: 2025-08-28 點(diǎn)擊: 167 次

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產(chǎn)品介紹

熱膨脹系數分析儀TEA 采用創(chuàng )新的光干涉原理專(zhuān)利技術(shù)，可無(wú)損檢測塊體和薄膜樣品的熱膨脹系數，廣泛應用于輔助各種新材料，尤其是薄膜材料的研究與開(kāi)發(fā)以及質(zhì)量檢驗。

產(chǎn)品特點(diǎn)

自主知識產(chǎn)權產(chǎn)品，擁有多項技術(shù)專(zhuān)利；

基于光干涉原理的創(chuàng )新技術(shù)；

采用 PID 調節與模糊控制相結合形式控制的紅外加熱方式，大溫區連續、高速溫度跟隨、既定程序升溫及保持控制；

非接觸式無(wú)損檢測，測試精度高；

具備外接抽真空設備、循環(huán)水冷設備及載氣或制冷能力；

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